مقاله ترجمه شده سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA

سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA

چکیده

این مقاله، سیستم BIST را با مولد الگوی آزمایشی غیر توکار (TPG) و تحلیگر پاسخ خروجی (ORA) برای تست و تشخیص آرایه گیت برنامه­پدیر میدانی ارائه می­دهد. سیستم BIST پیشنهادی، بطور فیزیکی شامل اجزاء نرم افزاری و سخت افزاری است که بین آنها دو کانال ارتباطاتی وجود دارد .TPG و ORA مدارات BIST در بخش نرم افزاری هستند در حالیکه مدار تحت آزمون (CUT) مداری در بخش سخت افزاری است. یک EPGA دیگر در بخش سخت افزاری جای داده می­شود تا به عنوان رابط بین TPG، ORA و CUT عمل کند. الگوریتم­های تست و تشخیص EPGA نیز ارائه شدند. در مقایسه با روش BIST توکار، وقتی سیستم BIST پیشنهادی جهت تست FPGA بکار برده می­شود اعداد پیکربندی بدون مبادله TPG ، CRA برای CUT کاهش داده می­شود. همچنین سیستم BIST پیشنهادی مشاهده پذیری و کنترل پذیری خوبی را برای FPGA تحت آزمون ارائه می­دهد که به علّت الگوریتم­های پیشنهادی است که برای تست و تشخیص توسعه داده می­شوند. هیچ اهمیتی ندارد FPGA تحت آزمون از چه نوع و اندازه آرایه­ای باشد، CUT از طریق سیستم BIST پیشنهادی تست می­شود. سیستم BIST از طریق تست چند EPGA مجموعه Xilinx ارزیابی می­شود و نتایج آزمایشاتی ارائه می­شود.

تعداد صفحات ترجمه شده :29

تعداد صفحات انگلیسی:11

• مشخصات محصول
• دسته‌بندی محصول
• برچسب‌ها
• دیدگاه‌ها