یک فایل،بانک مقالات ترجمه شده

یک فایل،بانک مقالات ترجمه شده

دانلود مقالات لاتین با ترجمه

مقاله ترجمه شده سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA

سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA

چکیده

این مقاله، سیستم BIST را با مولد الگوی آزمایشی غیر توکار (TPG) و تحلیگر پاسخ خروجی (ORA) برای تست و تشخیص آرایه گیت برنامه­پدیر میدانی ارائه می­دهد. سیستم BIST پیشنهادی، بطور فیزیکی شامل اجزاء نرم افزاری و سخت افزاری است که بین آنها دو کانال ارتباطاتی وجود دارد .TPG و ORA مدارات BIST در بخش نرم افزاری هستند در حالیکه مدار تحت آزمون (CUT) مداری در بخش سخت افزاری است. یک EPGA دیگر در بخش سخت افزاری جای داده می­شود تا به عنوان رابط بین TPG، ORA و CUT عمل کند. الگوریتم­های تست و تشخیص EPGA نیز ارائه شدند. در مقایسه با روش BIST توکار، وقتی سیستم BIST پیشنهادی جهت تست FPGA بکار برده می­شود اعداد پیکربندی بدون مبادله TPG ، CRA برای CUT کاهش داده می­شود. همچنین سیستم BIST پیشنهادی مشاهده پذیری و کنترل پذیری خوبی را برای FPGA تحت آزمون ارائه می­دهد که به علّت الگوریتم­های پیشنهادی است که برای تست و تشخیص توسعه داده می­شوند. هیچ اهمیتی ندارد FPGA تحت آزمون از چه نوع و اندازه آرایه­ای باشد، CUT از طریق سیستم BIST پیشنهادی تست می­شود. سیستم BIST از طریق تست چند EPGA مجموعه Xilinx ارزیابی می­شود و نتایج آزمایشاتی ارائه می­شود.

تعداد صفحات ترجمه شده :29

تعداد صفحات انگلیسی:11

 

 

افزودن به سبد خرید: 9,500 - 9,025 تومان
مقاله ترجمه شده سیستم خودآزمون توکار (BIST) با TPG و ORA غیرتوکاربرای تست و تشخیص EPCA
  • کد محصول: 781
  • مبلغ بدون تخفیف: 9,500 تومان
  • تخفیف: 5 درصد
  • مبلغ قابل پرداخت: 9,025 تومان
  • تعداد فایل پیوست شده: 1 مورد
  • نوع فایل: Zip
  • حجم فایل: 1.69 مگابایت
  • تاریخ ایجاد: 1401/05/30 - 11:05:59
  • اشتراک‌گذاری محصول:
  • وارد کردن نام، ایمیل و پیام الزامی است. (نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد)
دیدگاه شما برای ما مهم است
شانزده منهای دو