مقاله ترجمه شده مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی

مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی

چکیده

روش‌های خود تست کننده توکار (BIST) الگوسازی تست را انجام می‌دهند و به عملیات‌های تأییدی بر روی تراشه پاسخ می‌دهند. در BIST محاسباتی، ماژول‌هایی که معمولاً در مسیر داده‌ها وجود دارند (انباشتگرها، شمارشگرها و غیره) جهت اجرای عملیات‌های فوق‌الذکر بکار برده می‌شوند. به منظور شناسایی خرابی‌هایی که در مدارات جریان CMOS رخ می‌دهد، تست‌های دو الگویی مورد نیاز می‌باشد. بعلاوه، تست تأخیر که معمولاً اطمینان یافتن از عملیات مدار زمانی با سرعت زمان‌سنجی استفاده می‌شود نیاز به تست‌های دو الگویی دارد. در این مقاله، مولد تست دو الگویی جدیدی برای BIST محاسباتی ارائه می‌شود. اجرای سخت‌افزاری آن بطور مطلوب با روش‌های دیگری که در ادبیات ارائه شده‌اند مقایسه می‌شود. کاربرد طرح پیشنهادی برای تست دو الگویی ماژول‌های ROM آشکار می‌سازد که تست ROMهایی با اندازه کوچک تا متوسط در زمانی منطقی و با بالاسری سخت‌افزاری ناچیزکامل می‌شود.

تعداد صفحات ترجمه شده :18

تعداد صفحات انگلیسی:12

• مشخصات محصول
• دسته‌بندی محصول
• برچسب‌ها
• دیدگاه‌ها